ATE測試是一種通過計算機控制，自動完成對待測器件（DUT）進行激勵施加、信號采集、結果判定與數據處理的測試系統。其工作原理可拆解為以下關鍵環節： 

1.  測試程序加載

主控計算機先載入針對DUT的測試程序，解析出激勵波形、電壓/電流檔位、時序、判定閾值等全部測試向量 。  

2.  信號激勵與精密供電

程控信號源、電源模塊按測試向量向DUT提供精確的電壓、電流、時鐘、數字圖形或射頻激勵；開關矩陣/繼電器網絡把不同資源動態路由到對應管腳，實現“一套儀器多工位復用” 。  

3.  響應采集與調理

DUT輸出信號經探針卡或測試座進入ATE內部，由高速數字化儀、示波器、計數器、頻譜儀等測量模塊進行采樣；信號調理電路（放大、濾波、阻抗匹配）保證采樣精度  。 

4.  實時比對與判定

處理器把實測值與測試程序中的上下限實時比較，同時監控功耗、短路、開路、接觸電阻等異常；若任一參數超限即標記失敗并觸發中斷，節省后續測試時間 。 

5.  數據記錄與分揀

測試結果、失效項目、Shmoo圖、良率統計被即時寫入數據庫；機械手或分選機根據PASS/FAIL信號把器件放入對應料盤，實現全自動化分揀 。 

6.  并行測試與高速掃描（高級場景）

ATE通過Streaming Scan Network等并行技術，把單組高速數據流解碼后同時灌入多根掃描鏈，實現一拍多bit移入/移出，成倍提升掃描測試帶寬 。   

一句話總結：ATE測試的關鍵就是“程序控制激勵→精確采集→實時比對→數據閉環”，用軟硬件協同把人工示波器+電源+萬用表+電子負載的傳統測試流程壓縮到毫秒甚至微秒級，并保證可重復、可追溯、可大規模并行。